| 利用I-Z曲线的STM"接触"模式的电学测量和表面改性研究 |
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| 引用本文： | 李旭,严学俭,邱伟民,张群,王伟军,华中一.利用I-Z曲线的STM"接触"模式的电学测量和表面改性研究[J].电子显微学报,2003,22(2):180-184. |
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| 作者姓名： | 李旭 严学俭 邱伟民 张群 王伟军 华中一 |
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| 作者单位： | 复旦大学材料科学系,上海,200433 |
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| 摘 要： | 利用STM对金属有机络合物电双稳材料Ag—TCNQ薄膜进行电学性质的表征与改性，在针尖强电场的作用下，当电压达到某一阈值后薄膜从高阻态跃迁至低阻态，这两种高低阻态分别定义为一个存储单元的“0”与“1”状态。本文考虑到在STM的常规恒流工作模式下，针尖与样品之间的隧道结对于电学性质的表征与改性具有影响。为此测量隧道电流I对隧道结宽度Z的依赖关系，I-Z曲线，从而确定针尖刚好接触样品的接触点，利用STM进行了针尖与样品“接触式”的电学测量和表面电学改性研究，并与常规工作模式进行了比较。
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| 关 键 词： | 有机材料 电双稳态 隧道结 表面改性 隧道电流 扫描隧道显微镜 |
| 文章编号： | 1000-6281(2003)02-0180-05 |
Electrical characteristic test and surface modification in "Contact" mode of STM using I-Z curve |
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| LI Xu,YAN Xue-jian ,QIU Wei-min,ZHANG Qun,WANG Wei-jun,HUA Zhong-yi.Electrical characteristic test and surface modification in "Contact" mode of STM using I-Z curve[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2003,22(2):180-184. |
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| Authors: | LI Xu YAN Xue-jian QIU Wei-min ZHANG Qun WANG Wei-jun HUA Zhong-yi |
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| Affiliation: | LI Xu,YAN Xue-jian *,QIU Wei-min,ZHANG Qun,WANG Wei-jun,HUA Zhong-yi |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | STM organic materials electric bistable state tunnel junction surface modification |
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