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| 电子元器件抗硫化研究 | |
| 作者姓名： | 彭伟 杨博 曾阳 |
| 摘 要： | 为了解决电子元器件在使用过程中因硫化而失效的问题,通过对片式电阻器、轻触开关、继电器、LED光电器件的硫化失效原因以及硫化失效机理的研究与分析,提出应尽快建立电子元器件抗硫化评价体系,为装备提供高质量和高可靠的元器件奠定基础. |
| 关 键 词： | 电子元器件 硫化 评价体系 |
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