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用改进的RTP低温制备柱状硅薄膜
引用本文:张丽伟,李红菊,李瑞,卢景霄,张宇翔,王新昌.用改进的RTP低温制备柱状硅薄膜[J].半导体光电,2007,28(4):531-533.
作者姓名:张丽伟  李红菊  李瑞  卢景霄  张宇翔  王新昌
作者单位:郑州大学,教育部材料物理重点实验室,河南,郑州,450052;新乡师范高等专科学校,河南,新乡,453000;郑州大学,教育部材料物理重点实验室,河南,郑州,450052;河南工业大学,化工学院,河南,郑州,450042
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:用射频等离子体增强化学气相沉积(RF-PECVD)系统在普通玻璃衬底上制备了氢化非晶硅薄膜(a-Si:H),用改进的快速光热退火炉(RTP)对薄膜进行了低温下的退火处理.借助于扫描电子显微镜(SEM)对薄膜表面形貌的分析得知:本实验在600℃下成功制备了柱状结构多晶硅薄膜;相对来说,550℃退火60 s的柱晶效果最好;最大柱晶宽度达到了240 nm;结晶次序为从表面到内部.对实验结果进行了解释.

关 键 词:硅薄膜  柱状结晶  快速热退火  扫描电子显微镜
文章编号:1001-5868(2007)02-0531-03
修稿时间:2007-01-18

Fabrication of Columnar Silicon Thin Film at Low Temperature by Improved RTP
ZHANG Li-wei,LI Hong-ju,LI Rui,LU Jing-xiao,ZHANG Yu-xiang,WANG Xin-chang.Fabrication of Columnar Silicon Thin Film at Low Temperature by Improved RTP[J].Semiconductor Optoelectronics,2007,28(4):531-533.
Authors:ZHANG Li-wei  LI Hong-ju  LI Rui  LU Jing-xiao  ZHANG Yu-xiang  WANG Xin-chang
Affiliation:1. Key Lab. of Material Physics of Ministry of Education, Zhengzhou University, Zhengzhou 450052, CHN ; 2. Xinxiang Teachers College,Xinxiang 453000, CHN; 3. Henan University of Technology, Zhengzhou 450042,CHN
Abstract:
Keywords:
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