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PLD法制备锑掺杂p型ZnO薄膜
引用本文:潘新花,叶志镇,朱丽萍,顾修全,何海平. PLD法制备锑掺杂p型ZnO薄膜[J]. 半导体学报, 2007, 28(Z1): 279-281
作者姓名:潘新花  叶志镇  朱丽萍  顾修全  何海平
作者单位:潘新花(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);叶志镇(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);朱丽萍(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);顾修全(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);何海平(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027)
基金项目:国家自然科学基金 , 浙江省自然科学基金
摘    要:采用脉冲激光沉积方法在石英衬底上生长了掺锑(Sb)的p型ZnO薄膜.X射线衍射测试表明薄膜具有c轴择优取向的结构特性,霍尔测试表明ZnO薄膜呈p型导电特性,XPS分析表明Sb掺入了ZnO薄膜,且Sb掺人ZnO中是占据Zn的位置,而不是O的晶格位置.通过优化温度获得了电学性能优良的p型ZnO薄膜,其电阻率为2.21Ω·cm,迁移率为1.23cm2/(V·s),空穴浓度为2.30×1018cm-3.

关 键 词:脉冲激光沉积  p-ZnO  锑掺杂
文章编号:0253-4177(2007)S0-0279-03
修稿时间:2006-12-31

Fabrication of Sb-Doped p-Type ZnO Thin Films by PLD
Pan Xinhua,Ye Zhizhen,Zhu Liping,Gu Xiuquan,He Haiping. Fabrication of Sb-Doped p-Type ZnO Thin Films by PLD[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(Z1): 279-281
Authors:Pan Xinhua  Ye Zhizhen  Zhu Liping  Gu Xiuquan  He Haiping
Abstract:
Keywords:
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