摘 要: | 为研究膜厚对左旋聚乳酸-聚乙二醇两嵌段共聚物结晶行为的影响,通过旋凃法制备了437~30nm厚度范围的一系列薄膜样品.利用反射光学显微镜、原子力显微镜以及二维掠入射广角X射线散射等手段对薄膜样品的结晶形貌、结晶行为以及结晶取向进行了分析.嵌段共聚物薄膜样品在70℃等温结晶的显微镜结果表明:当膜厚为50nm时,样品具有最大的晶体生长速率,约为18.3μm·min-1;当薄膜厚度低于90nm时,PLLA嵌段的结晶形貌从球晶转化为分形的树枝状结晶;当薄膜厚度为437nm与330nm时,PLLA嵌段的结晶为无规取向,表现出各向同性;当薄膜厚度小于90nm时,PLLA嵌段的结晶取向倾向于flat-on取向,最终构成多层片晶堆积的树枝形貌.
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