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| 毛刺—组合逻辑电路中的竞争冒险 | |
| 引用本文： | 卫承华.毛刺—组合逻辑电路中的竞争冒险[J].计量与测试技术,2001,28(2):26-27. |
| 作者姓名： | 卫承华 |
| 作者单位： | 云南省计量测试研究所 |
| 摘 要： | 作者根据长期工作实践和理论探讨，撰写此文,意从理论的角度上深入剖析“毛刺”产生的原因。文中通过其值表详细阐述了产生“毛刺”的逻辑关系，并就可能导致电路产生某些误动作的“毛刺”现象，提出了消除的方法。 |
| 关 键 词： | 毛刺 组合逻辑电路 故障 |
| 修稿时间： | 2000年8月2日 |
Maoci - Rival Risk on The Logical Circuit of Combination |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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