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| 测量位错密度时位错成象的分析 | |
| 引用本文： | 卢鸿修.测量位错密度时位错成象的分析[J].电子显微学报,1986(3). |
| 作者姓名： | 卢鸿修 |
| 作者单位： | 冶金部钢铁研究总院六室 |
| 摘 要： | 测量位错密度常用方法之一是割线交点法,其公式为: Q=2 MN/1t式中Q—位错密度(cm/cm~3);M—照片的放大倍数;N—割线与位错线的交点数;1—照片上割线的长度(cm);t—薄膜厚度(cm)。这种测量方法产生误差的主要原因之一是难以选择适当的操作矢量gHKL以保证全部位错成象从而得到准确的 |
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