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剑桥S250扫描电镜控制电路部分故障分析与排除
引用本文:何建平,金建灵,崔新发,杨启敏. 剑桥S250扫描电镜控制电路部分故障分析与排除[J]. 现代仪器, 2000, 0(6): 42-43
作者姓名:何建平  金建灵  崔新发  杨启敏
作者单位:北京科技大学新金属材料国家重点实验室,北京,100083
摘    要:本文主要简单介绍剑桥S250扫描电镜的控制部分的结构,分析检修方法和常见故障。

关 键 词:扫描发生器  透镜电流  线扫  帧扫  消隐

Faults study and Solution of Cambridge S250 SEM Control Unit
He Jianping,Jin Jianling,Cui Xinfa,Yang Qimin. Faults study and Solution of Cambridge S250 SEM Control Unit[J]. Modern Instruments, 2000, 0(6): 42-43
Authors:He Jianping  Jin Jianling  Cui Xinfa  Yang Qimin
Abstract:This paper shows the basic structure and general trouble shooting of control unit of Cambridge S250 SEM system.
Keywords:scan generator lens current Line scan frame scan blank
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