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硅压阻式传感器的温度特性及其补偿
引用本文:樊尚春,彭春荣.硅压阻式传感器的温度特性及其补偿[J].微纳电子技术,2003,40(7):484-488.
作者姓名:樊尚春  彭春荣
作者单位:北京航空航天大学自动化学院,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50275009);航空科学基金资助项目(02151018)
摘    要:基于硅压阻式传感器的工艺过程与后续电路设计,讨论了减小其温度影响的措施。文中对在相同的硅基底上,采用诸如扩散、离子注入、薄膜淀积以及溅射等不同加工工艺制作实现的不同的压敏电阻特性,特别是温度特性进行了探讨和比较。针对一种具体的硅杯结构的压阻式传感器,设计、选择了加工工艺,给出了压敏电阻的近似温度补偿公式,讨论了传感器补偿电路的实现方案。

关 键 词:阻式传感器  温度特性  温度补偿  硅传感器  扩散掺杂工艺  压阻特性
文章编号:1671-4776(2003)07/08-0484-05
修稿时间:2003年5月15日

Temperature properties and compensation for silicon piezoresistive sensors
Abstract:
Keywords:
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