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| 参加ISO／TC 172／SC 5 2004年6月柏林会议总结 | |
| 作者单位： | 全国光标委 |
| 摘 要： | ISO/TC172/SC5光学和光子学标准化技术委员会显微镜和内窥镜分技术委员会及其工作组WG3、WG6、WG8、WG9和WGX会议于2004年6月14日至6月17日在德国柏林举行,参加会议的有美国、英国、德国、瑞士、日本、中国的代表。中国代表团由全国光学和光学仪器标准化技术委员会组织,主任委员庄松林院士、秘书长章慧贤高工、梧州光学仪器厂张斌副厂长、浙江省医疗器械检验所马莉高工和机械工业仪器仪表综合技术经济研究所沈璞工程师等一行五人组团出席会议,由庄松林院士任中国代表团团长。现将会议的主要情况介绍如下。1WG3术语和定义(工作组会议… |
| 关 键 词： | 2004年6月 ISO／TC 会议总结 柏林 标准化技术委员会 SC 工作组 内窥镜 显微镜 光子学 德国 |
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