消光法粒度测量中折射率反演问题研究 |
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摘 要: | 多波长消光法粒度测量中,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法可以对折射率进行反演.相比于传统的优化方法,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.
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关 键 词: | 颗粒测量 Mie散射 反演 |
Inversion of Refractive Index in Particle Sizing by Multi-Spectral Light Extinction Method |
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