差分SPV法测量a—Si：H材料少子扩散长度的数学模型

用差分ＳＰＶ法测量ａ－Ｓｉ：Ｈ材料的少子扩散长度，可以消除被测样品背面结的影响。本文讨论了这种测量方法的数学模型，导出了测量公式，分析了影响测量结果的各种因素。