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| 寿命谱仪能窗选择 | |
| 引用本文： | 陆挺.寿命谱仪能窗选择[J].核电子学与探测技术,1989,9(2):102-107. |
| 作者姓名： | 陆挺 |
| 作者单位： | 北京师范大学低能核物理研究所 |
| 摘 要： | 近年来正电子湮没技术发展很快。它已经广泛地应用于各种领域中,在某些领域如金属及合金的研究中几乎成为一种常规的手段。 正电子湮没实验技术有三种主要的方法即寿命测量、能量的多普勒展宽测量、角关联测量。其中的寿命测量从概念上讲是比较直接的,但是从仪器设备和它的合理使用上讲,寿命测量是三个正电子方法中最为复杂的。 对于正电子寿命测量所使用的正电子寿命谱仪来说,谱仪的分辨率是最为重要的指 |
| 关 键 词： | 正电子湮没 寿命谱仪 分辨率 |
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