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| 高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式 | |
| 作者姓名： | 杨晓寒 王浩 |
| 作者单位： | 无锡华润上华半导体有限公司设计服务中心 |
| 摘 要： | 本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本。 |
| 关 键 词： | MPW测试 IC测试 解决 改良 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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