| CAS系统微晶玻璃残余应力测定 |
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| 引用本文： | 程金树,龙欣江,谢俊,杨淑珍.CAS系统微晶玻璃残余应力测定[J].玻璃,2005,32(3):23-26. |
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| 作者姓名： | 程金树 龙欣江 谢俊 杨淑珍 |
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| 作者单位： | 武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室,武汉市,430070;武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室,武汉市,430070;武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室,武汉市,430070;武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室,武汉市,430070 |
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| 摘 要： | 分析了CAS系统微晶玻璃中热残余应力的形成机理,并对几种常见的残余应力的方法进行了比较,最后确定用普通X射线衍射法测定CAS系统微晶玻璃中的残余应力.
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| 关 键 词： | 微晶玻璃 残余应力 X射线衍射法 |
| 文章编号： | 1003-1987(2005)03-0023-04 |
DETERMINATION OF RESIDUAL STRESS IN CAS GLASS CERAMICS |
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| CHENG Jin-shu,Long Xin-jiang,Xie Jun,YANG Shu-Zheng.DETERMINATION OF RESIDUAL STRESS IN CAS GLASS CERAMICS[J].Class,2005,32(3):23-26. |
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| Authors: | CHENG Jin-shu Long Xin-jiang Xie Jun YANG Shu-Zheng |
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| Abstract: | This paper described the formation mechanism of residual thermal stress in glass ceramics . The X-ray diffraction is chosen as the tool of residual stress measurement in CAS glass ceramics after comparison of several common measuring procedures . |
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| Keywords: | Glass ceramics residual stress X-ray diffraction |
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