| 红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究 |
| |
| 引用本文： | 陈中建,鲁文高,唐矩,张雅聪,吉利久.红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究[J].红外与毫米波学报,2008,27(5). |
| |
| 作者姓名： | 陈中建 鲁文高 唐矩 张雅聪 吉利久 |
| |
| 作者单位： | 北京大学,微电子学系,北京,100871 |
| |
| 摘 要： | 给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.
|
| 关 键 词： | 时间延迟积分 测试方法 读出电路 红外焦平面 |
STUDY ON TEST METHOD OF TDI FUNCTION FOR INFRARED FOCAL PLANE ARRAY CMOS READOUT CIRCUITS |
| |
| CHEN Zhong-Jian,LU Wen-Gao,TANG Ju,ZHANG Ya-Cong,JI Li-Jiu.STUDY ON TEST METHOD OF TDI FUNCTION FOR INFRARED FOCAL PLANE ARRAY CMOS READOUT CIRCUITS[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,2008,27(5). |
| |
| Authors: | CHEN Zhong-Jian LU Wen-Gao TANG Ju ZHANG Ya-Cong JI Li-Jiu |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文 |
|
