| 使用CCD的微小疵点面积测量系统设计 |
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| 引用本文： | 陈云峰,王高,周汉昌.使用CCD的微小疵点面积测量系统设计[J].电光与控制,2008,15(12). |
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| 作者姓名： | 陈云峰 王高 周汉昌 |
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| 作者单位： | 中北大学信息与通信工程学院电子测试技术国家重点实验室,太原,030051;中北大学信息与通信工程学院电子测试技术国家重点实验室,太原,030051;中北大学信息与通信工程学院电子测试技术国家重点实验室,太原,030051 |
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| 基金项目： | 山西高校科技研究开发项目 |
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| 摘 要： | 为检测光纤传像器件的疵点面积,提出了一种检测微小疵点面积的算法.首先根据疵点面积大小确定显微物镜放大倍数和十字分化板的精度;用CCD(电荷耦合器件)采集图像,该图像经十字分化板标定后得出单位像素面积.然后采用最大熵法确定图像分割阈值,经边缘检测得到疵点的像素数,从而计算出疵点面积.该系统由软硬件两部分组成,硬件部分卤钨灯的光经积分球后得到漫射光源,使用CCD相机和图像采集卡得到图像,软件部分介绍了图像处理算法及eVision二次开发,并对实验数据进行了误差分析.实验结果证明:该方法准确可靠,精度可达到1×10-10 m2,能够满足疵点面积测量要求.
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| 关 键 词： | 光纤器件 CCD 疵点面积 最大熵法 边缘检测 图像处理 显微测量 |
Design of a CCD based tiny defect area measurement system |
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| CHEN Yun-feng,WANG Gao,ZHOU Han-chang.Design of a CCD based tiny defect area measurement system[J].Electronics Optics & Control,2008,15(12). |
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| Authors: | CHEN Yun-feng WANG Gao ZHOU Han-chang |
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| Affiliation: | National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology;School of Information and Communication Engineering;North University of China;Taiyuan 030051;China |
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| Abstract: | One algorithm is put forward for measuring the tiny defect area of fiber optic devices.First,the magnification factor of micro objective lens and precision of cross-line graticule are selected according to the size of the defect area.An image is collected by using CCD.Then the area of a unit pixel is obtained by demarcatingthe image through the graticule.Then the principle of maximum information entropy is used to get the image segmentation threshold value,and the pixel number is obtained through edge detec... |
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| Keywords: | CCD |
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