微型计算机在LSI测试中的应用

本文首先介绍了用DJS—061—1(或MEK6800D_2)微型计算机测试各种LSI电路的原理和方法。进而介绍了运用DJS—061—1机的并行接口PIA—B组成通用测试接口,直接对DJS—061机的MPU分片电路、PIA接口、EPROM、ROM、RAM等多种LSI进行测试的有关技术。本文的后一部分介绍了用DJS—061—1型(或MEK6800D_2型)微型计算机为控制机组成一个小的LSI芯片测试系统的有关技术,包括LSI芯片测试的保护与隔离、探针不良的计算机辅助诊断和LSI常见工艺缺陷的计算机辅助分析。此外还介绍了运用DJS—061—1(或MEK6800D_2)组成全自动LSI芯片测试系统的设计技术。