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| IEC/TC108美国会议综述 | |
| 引用本文： | 何鹏林. IEC/TC108美国会议综述[J]. 安全与电磁兼容, 2012, 0(4): 70-72 |
| 作者姓名： | 何鹏林 |
| 作者单位： | 中国电子技术标准化研究院 |
| 摘 要： | 1 参会情况介绍IEC/TC 108会议于2012年5月30日至6月8日在美国伊利诺伊州诺斯布鲁克召开,来自各国家委员会、企业、试验室的专家40余人参加了此次会议.会议分别进行了MT1、MT2、HBSDT工作组会议和TC 108全会.参加本次会议的中国代表团由来自中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、联想(北京)有限公司的三位专家组成. |
| 关 键 词： | 工作组 电池 会议综述 冲击试验 修订 跌落试验 情况介绍 文件 试验时间 技术标准化 |
The Summary of IEC/TC 108 Meeting in USA |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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