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| 基于ATE的可编程逻辑器件测试方法 | |
| 作者单位： | ;1.中国电子科技集团公司第58研究所 |
| 摘 要： | 集成电路发展模式已从软编程、硬编程到软硬双编程方向发展,可编程器件已成为时代主流,对可编程器件的测试需求越来越多。首先介绍了可编程器件的概念和分类,然后针对目前主流的自动测试设备(ATE)做了介绍,接着详细描述了各种可编程器件的测试方法。该方法具有较强的通用性,可广泛应用于各种PLD、PROM、CPLD、FPGA等可编程器件的测试,对于实现可编程器件的产业化测试具有一定意义。 |
| 关 键 词： | 可编程逻辑器件 ISP ATE 测试 |
The Research of Programmable Logic Device Testing Method Based on the ATE |
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