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抗恶劣环境光盘的结构和温度特性研究
引用本文:胡作启,李佐宜.抗恶劣环境光盘的结构和温度特性研究[J].磁记录材料,1997,15(3):4-6.
作者姓名:胡作启  李佐宜
摘    要:分析了磁光记录技术的发展趋势,研究了磁光盘的结构及溅射工艺,研究成功了宽温(使用范围-20 ̄+60℃、高湿60% ̄95%RH)抗恶劣环境的磁光盘。

关 键 词:光盘  结构  湿度  抗恶劣环境  磁光盘
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