| 基于AT P G的可测性设计在RSICCPU的应用 |
| |
| 引用本文： | 周显文,吕炳朝,石岭.基于AT P G的可测性设计在RSICCPU的应用[J].半导体技术,2001,26(10):33-36. |
| |
| 作者姓名： | 周显文 吕炳朝 石岭 |
| |
| 作者单位： | 电子科技大学 |
| |
| 摘 要： | 介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模生成结合可测性设计技术在测试RSIC CPU制造缺陷中的应用。
|
| 关 键 词： | 可测性设计 自动测试模式生成 CPU RSIC 中央处理器 |
| 文章编号： | 1003-353(2001)10-0033-04 |
DFT based on ATPG is utilized to RSIC CPU |
| |
| ZHOU Xian-wen,LU Bing-chao,SHI-ling.DFT based on ATPG is utilized to RSIC CPU[J].Semiconductor Technology,2001,26(10):33-36. |
| |
| Authors: | ZHOU Xian-wen LU Bing-chao SHI-ling |
| |
| Abstract: | This paper introduces fault model and design flow of the ATPG (automatic test pattern generation) techniques, which are utilized to test RSIC CPU manufacturing defects along with DFT(design for test) technology. |
| |
| Keywords: | design for test automatic test pattern generation fault coverage test pattern |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
