| 7050-T7451干涉螺接双剪接头疲劳寿命与失效模式研究 |
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| 引用本文： | 赵庆云,陈群志,黄宏,崔长京,肖庆东.7050-T7451干涉螺接双剪接头疲劳寿命与失效模式研究[J].机械科学与技术(西安),2015,34(5):808-811. |
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| 作者姓名： | 赵庆云 陈群志 黄宏 崔长京 肖庆东 |
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| 作者单位： | 1. 北京航空制造工程研究所,北京,100024
2. 北京航空工程技术中心,北京,100076 |
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| 摘 要： | 针对不同干涉量的7050-T7451双剪接头,进行疲劳试验,对比分析了不同干涉量接头的疲劳寿命。通过扫描电镜(SEM)方法,研究了干涉接头疲劳断口形貌特征。研究结果表明:采用干涉量0.08 mm~0.14 mm对7050-T7451板材双剪接头进行干涉安装,可取得较好的疲劳强化效果,并且在0.11 mm干涉量下,疲劳寿命增益最显著。7050-T7451双剪接头试样疲劳断口呈现混合型穿晶疲劳断裂特征,材料具备一定韧性。干涉螺接对孔壁有强化作用,干涉螺接的试片裂纹源于结构表面,而不源于孔壁,结构表面的改进将有利于疲劳寿命的提高。
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| 关 键 词： | 干涉 强化 螺接 疲劳寿命 失效分析 断口 疲劳裂纹源 孔 |
Fatigue Life and Failure Analysis of 7050-T7451 Interference-fit Double-shear Bolted Joints |
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| Zhao Qingyun,Chen Qunzhi,Huang Hong,Cui Changjing,Xiao Qingdong.Fatigue Life and Failure Analysis of 7050-T7451 Interference-fit Double-shear Bolted Joints[J].Mechanical Science and Technology,2015,34(5):808-811. |
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| Authors: | Zhao Qingyun Chen Qunzhi Huang Hong Cui Changjing Xiao Qingdong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | bolted joints crack fractography design of experiments failure analysis fatigue crack source fatigue life fatigue of materials hole interference morphology probability distribations scanning electron microscopy strengthen titanium alloys |
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