| 瞬态传导骚扰测试方法及其抑制技术的探讨 |
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| 引用本文： | 黎俊勇. 瞬态传导骚扰测试方法及其抑制技术的探讨[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2013, 31(2) |
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| 作者姓名： | 黎俊勇 |
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| 作者单位： | 工业和信息化部电子第五研究所,广东广州,510610 |
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| 摘 要： | 介绍了瞬态传导骚扰的形成机理、危害及几种常用的测试方法,并综合其他研究人员的成果和自身经验对瞬态传导骚扰提出了相应的抑制措施,希望能对从事相关技术研究的电子产品设计者和电磁兼容工程师有所帮助.
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| 关 键 词： | 感性器具负载 瞬态传导骚扰 抑制技术 软开关 |
Research on the Transient Conducted Emission Test Method and its Suppression Techniques |
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| LI Jun-yong. Research on the Transient Conducted Emission Test Method and its Suppression Techniques[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2013, 31(2) |
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| Authors: | LI Jun-yong |
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