单纵模半导体激光器偏振特性的研究

对双异质结1.3μm单纵模半导体激光器偏振特性的测量表明,在输出光场中电场平行于结平面的Ex模和垂直于结平面的Ey模总是不同程度地同时存在,这对光谱纯度有较大的影响。当加入偏振镜滤除沿y方向偏振的分量后,光谱纯度有所改善,并且这种改善与激光器的工作状态有关。对于这个现象本文给出了定性的分析。