抑弧层结构对高压熔断器熔断效果的影响 |
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作者单位: | ;1.中国振华集团云科电子有限公司 |
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摘 要: | 将不同结构的抑弧层使用在相同熔断器基片上,研究了不同结构对熔断器高压电弧猝灭效果的影响。结果表明:熔断器动作时高压电弧的猝灭与抑弧层结构密切相关,多孔的抑弧层结构更有利于电弧的及时猝灭,对抑弧层中孔洞结构进行优化后熔断器电弧猝灭时间能够缩短至3 ms以内,电弧猝灭后的绝缘电阻大于500 M?,能达到较好的切断电流的目的。
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关 键 词: | 熔断器 抑弧层 抑弧性能 过流保护 SMD 多孔材料 |
Effect of structure of arc quenching layer on high voltage fuse |
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