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抑弧层结构对高压熔断器熔断效果的影响
作者单位:;1.中国振华集团云科电子有限公司
摘    要:将不同结构的抑弧层使用在相同熔断器基片上,研究了不同结构对熔断器高压电弧猝灭效果的影响。结果表明:熔断器动作时高压电弧的猝灭与抑弧层结构密切相关,多孔的抑弧层结构更有利于电弧的及时猝灭,对抑弧层中孔洞结构进行优化后熔断器电弧猝灭时间能够缩短至3 ms以内,电弧猝灭后的绝缘电阻大于500 M?,能达到较好的切断电流的目的。

关 键 词:熔断器  抑弧层  抑弧性能  过流保护  SMD  多孔材料

Effect of structure of arc quenching layer on high voltage fuse
Abstract:
Keywords:
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