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| 全面的实时测试和调试解决方案让您从容应对设计挑战 | |
| 引用本文： | 周文昊,刘斐,曾志.全面的实时测试和调试解决方案让您从容应对设计挑战[J].世界电子元器件,2006(11):45-47. |
| 作者姓名： | 周文昊 刘斐 曾志 |
| 作者单位： | 泰克科技 资深销售经理(周文昊)，泰克科技 高级应用工程师(刘斐，曾志) |
| 摘 要： | 高速数字系统的设计挑战随着嵌入式技术的发展,数字系统设计要求的速度越来越快,特别是在信号调试方面需要的速度更高。高速串行系统调试使工程师需要面临最重要的环节就是信号完整性测试。信号完整性是数字信号和模拟信号在传输的过程中没有任何的损耗,即传统意义上的一致性测试。对任何电路来说,即使只有一个放大器,也会涉及到信号完整性问题,特别是在高速情况下,外界因素的影响、逻 |
| 关 键 词： | 数字系统设计 系统调试 实时测试 信号完整性 高速数字系统 模拟信号 嵌入式技术 完整性测试 |
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