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反应磁控溅射制备SnO2薄膜及其微观形貌与光致发光性能研究
引用本文:姚宏燚,袁志钟,熊志高,翟艺璇,李东升. 反应磁控溅射制备SnO2薄膜及其微观形貌与光致发光性能研究[J]. 材料导报, 2016, 30(18): 1-5. DOI: 10.11896/j.issn.1005-023X.2016.18.001
作者姓名:姚宏燚  袁志钟  熊志高  翟艺璇  李东升
作者单位:1. 江苏大学材料科学与工程学院,镇江,212013;2. 浙江大学材料科学与工程学院,硅材料国家重点实验室,杭州310027
基金项目:国家重点实验室开放基金(SKL2010-10)
摘    要:利用反应磁控溅射法(RMS)制备了SnO_2薄膜,并研究了溅射参数对薄膜微观结构和光学性能的影响。结果表明,随着溅射气压、氧分压的增大和衬底温度的升高,薄膜沉积速率相应减小;在不同衬底温度下(室温至600℃)溅射薄膜时,较高的衬底温度可得到较大的SnO_2晶粒,表面更为粗糙;此外,将原生SnO_2薄膜在O_2气氛下退火可以改善其结晶度,原本的柱状结构转变成致密的薄膜结构,其光学禁带宽度变宽至3.85eV;经过退火的SnO_2薄膜的光致发光(PL)强度显著增强,位于约610nm的PL发光峰主要是源于SnO_2纳米晶体表面悬挂键的未饱和电子态。

关 键 词:SnO2薄膜  反应磁控溅射  光致发光  光学禁带

Microstructure and Photoluminescence of SnO2 Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering
YAO Hongyi,YUAN Zhizhong,XIONG Zhigao,ZHAI Yixuan and LI Dongsheng. Microstructure and Photoluminescence of SnO2 Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering[J]. Materials Review, 2016, 30(18): 1-5. DOI: 10.11896/j.issn.1005-023X.2016.18.001
Authors:YAO Hongyi  YUAN Zhizhong  XIONG Zhigao  ZHAI Yixuan  LI Dongsheng
Abstract:
Keywords:SnO2 thin film   reactive magnetron sputtering   photoluminescence   optical band gap
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