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基于SimAM-YOLOv5s的PCB缺陷检测算法
作者姓名:胡兰兰  邓超
作者单位:河南理工大学物理与电子信息学院
基金项目:河南省科技攻关项目(232102210100);
摘    要:为解决PCB缺陷检测存在精度低、检测效果差的问题,提出一种基于SimAM-YOLOv5s的PCB缺陷检测算法。利用Kmeans++对锚框进行重新聚类,通过添加浅层尺度信息来丰富小目标数据,提高深层和浅层语义信息的融合能力;将损失函数修改为SIoU,即引入角度损失来计算距离损失,以加快网络收敛速度,使回归参数更加准确;通过结合轻量化注意力机制SimAM为网络提供三维的注意力权重,过滤掉冗余信息,改善模型的准确性和鲁棒性。实验结果表明,改进后YOLOv5s算法的模型大小为27.7 MB,检测的平均精度均值为98.39%,比原网络提高了4.44%,有效提升了PCB缺陷检测的精度。

关 键 词:PCB缺陷检测  SimAM  SIoU  YOLOv5s
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