| 一种减少BIST测试资源的高级寄存器分配算法 |
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| 引用本文： | 李杰,李锐,卜爱国,王超.一种减少BIST测试资源的高级寄存器分配算法[J].电路与系统学报,2006,11(6):91-95. |
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| 作者姓名： | 李杰 李锐 卜爱国 王超 |
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| 作者单位： | 东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏,南京,210096 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助课题（60176018） |
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| 摘 要： | 在高级综合阶段考虑电路的可测性有许多优点，包括降低硬件开销，减少性能的下降，并达到更高的测试效率等。本文提出了一种基于伪随机可测性方法的寄存器分配算法，来减少内建自测试（BIST）所带来的硬件开销。在基准电路上的实验结果表明：与其它BIST测试综合方法相比较，采用本论文所提的方法进行测试综合对测试资源占用最多可以降低46.8%.
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| 关 键 词： | 内建自测试 寄存器分配算法 自可测性 测试 |
| 文章编号： | 1007-0249（2006）06-0091-05 |
| 收稿时间： | 2006-04-13 |
| 修稿时间： | 2006-06-27 |
A high level register allocation algorithm for minimizing BIST test resources |
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| LI Jie,LI Rui,BU Ai-guo,WANG Chao.A high level register allocation algorithm for minimizing BIST test resources[J].Journal of Circuits and Systems,2006,11(6):91-95. |
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| Authors: | LI Jie LI Rui BU Ai-guo WANG Chao |
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| Abstract: | Considering testability during high level synthesis has several benefits,including reducing area overhead and performance degradation,improving test effectiveness and so on.In this paper,we present a register allocation algorithm based on pseudo-random testability metrics for minimizing Built-in Selftest(BIST) resources.Through a variety of synthesis benchmarks,experimental results show that the test resources reduction of up to 46.8% can be achieved by comparison with other BIST synthesis methods. |
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| Keywords: | Built-in Self-Test register allocation algorithm self testability test |
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