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离子束增强沉积氮化硅膜及TiAl抗高温氧化性能的改善
引用本文:徐东,朱宏,汤丽娟,杨云洁,郑志宏,柳襄怀,谷口滋次,柴田俊夫.离子束增强沉积氮化硅膜及TiAl抗高温氧化性能的改善[J].金属学报,1995,31(16):164-172.
作者姓名:徐东  朱宏  汤丽娟  杨云洁  郑志宏  柳襄怀  谷口滋次  柴田俊夫
作者单位:中国科学院上海冶金研究所离子束开放实验室,日本大阪大学材料系
摘    要:用离子束增强沉积(IBED)方法在金属间化合物TiAl上合成厚度为0.5,1,和2μm的氮化硅薄膜。所形成的薄膜为非晶态,膜与基底间存在混合的过渡区,膜与基底结合紧密用AES,XRD和XPS研究薄膜的组成和结构,高温循环氧化结果表明,经沉积膜的TiAl试样的抗氧化性能显著提高其中沉积0.5μm薄膜的试样表现出极好的抗循环氧化性能由SEM及EDS分析得出,良好的高温稳定性能、高的膜/基底结合力和形成富Al2O3和硅化物的保护层是提高TiAl抗高温氧化性能的主要因素.

关 键 词:氮化硅薄膜,TiAl,离子束增强沉积,高温氧化

IMPROVEMENT OF OXIDATION RESISTANCE OF TiAl BY ION-BEAM-ENHANCED DEPOSITION OF Si_3N_4 COATINGS
XU Dong,ZHU Hong,TANG Lijuan,YANG Yunjie,ZHENG Zhihong,LIU Xianghuai TA NIGUCHI S,SHIBATA T.IMPROVEMENT OF OXIDATION RESISTANCE OF TiAl BY ION-BEAM-ENHANCED DEPOSITION OF Si_3N_4 COATINGS[J].Acta Metallurgica Sinica,1995,31(16):164-172.
Authors:XU Dong  ZHU Hong  TANG Lijuan  YANG Yunjie  ZHENG Zhihong  LIU Xianghuai TA NIGUCHI S  SHIBATA T
Abstract:
Keywords:Si3N4 film  TiAl  ion beam enhanced deposition  oxidation resistance  
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