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| 电子显微术测定的一个晶体结构准确到0.02nm | |
| 摘 要： | 电子显微术测定的一个晶体结构准确到００２ｎｍ电子晶体学相对Ｘ射线晶体学的优点是：１可以从显微像直接测定晶体结构；２可以分析非常小的晶体。对ＨＲＥＭ来说，成像时只需约１００个晶胞，对电子衍射来说，只需约１０，０００个晶胞，比Ｘ射线衍射所需的晶胞数... |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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