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一个结合黑箱估计和试验室试验的Bayes程序

引用本文：	Brash,GG 陈学军.一个结合黑箱估计和试验室试验的Bayes程序[J].电子产品可靠性与环境试验,1991(1):24-28.

作者姓名：	Brash GG 陈学军

摘要：
关键词：	电子设备黑箱试验 Bayes程序
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