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| 记忆装置改善扫频测量 | |
| 作者姓名： | RalphH.Britron 高学民 |
| 摘 要： | 在微波元件的产品测试中,使用定向耦合器和检波器进行扫频反射波损耗和传输损耗测量,需要化大量时间,通过把一台小型半导体存贮器加到用来完成测试的系统,进行这些测量的大量麻烦就可以消除。迠立一根参考校准曲线并从测得的数据中减去它需化费大量的时 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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