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FPGA中RAM资源的测试定位算法研究及实现
引用本文:李文昌,李平,阮爱武,杨志明,廖永波,李威.FPGA中RAM资源的测试定位算法研究及实现[J].微电子学,2011,41(4).
作者姓名:李文昌  李平  阮爱武  杨志明  廖永波  李威
作者单位:1. 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054
2. 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054;成都华微电子科技有限公司,成都610041
3. 成都华微电子科技有限公司,成都,610041
摘    要:在XC4000系列FPGA中,每个CLB的两个四输入查找表都可以被配置成随机存取存储器(RAM),RAM可以为FPGA提供存储大量数据的能力,因此,对RAM的测试是FPGA完备性测试必不可少的部分.根据RAM的结构和功能,提出一种有效的测试方法,并以XC4010E-PQ160为例,使用SOC软硬件协同验证平台,证明两次配置就可以完成对RAM的全覆盖可定位测试.

关 键 词:随机存取存储器  FPGA  测试定位  软硬件协同验证平台

A Testing and Locating Approach for RAMs in FPGA
LI Wenchang,LI Ping,RUAN Aiwu,YANG Zhiming,LIAO Yongbo,LI Wei.A Testing and Locating Approach for RAMs in FPGA[J].Microelectronics,2011,41(4).
Authors:LI Wenchang  LI Ping  RUAN Aiwu  YANG Zhiming  LIAO Yongbo  LI Wei
Abstract:
Keywords:
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