|
|||||
|
|
| 基于"Bennia-Riad”准则频域反卷积 | |
| 作者姓名： | 贺云辉 刘明亮 |
| 作者单位： | 北京工业大学 |
| 摘 要： | 文中首先简介了"Bennia-Riad”准则和扩展的"Bennia-Riad”准则;其次介绍了基于扩展的"Bennia-Riad”准则的高通系统的反卷积问题;最后介绍了基于"Bennia-Riad”准则的带通系统的反卷积问题 |
| 关 键 词： | 准则 滤波 带通系统 反卷积 时域测量 频域 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |