| 基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术 |
| |
| 引用本文： | 周灿林,司书春,高成勇,徐建强,雷振坤. 基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术[J]. 光电工程, 2013, 40(6) |
| |
| 作者姓名： | 周灿林 司书春 高成勇 徐建强 雷振坤 |
| |
| 作者单位： | 1. 山东大学物理学院,济南,250100
2. 大连理工大学工程力学系,辽宁大连,116024 |
| |
| 基金项目： | 山东省中青年科学家奖励基金，山东省科技攻关项目，国家自然科学基金 |
| |
| 摘 要： | 将格莱姆-施密特正交化法引入投影栅形貌测量,提出了一种新的两步相移轮廓术.首先将2幅随机相移正弦条纹通过DLP投影仪投射到待测物体上,由CCD相机采集受物体形貌调制的变形光栅条纹图,再选择合适大小窗口经像素逐点均值法消除变形栅线图中的背景成分,然后对消背景栅线图进行格莱姆-施密特正交化,得到2幅消背景相移栅线图对应的正交基,由正交基解调出相位数据.最后对面膜样品进行了实际测量,并与其它方法进行了比较分析,实验结果证明了该方法的有效性.
|
| 关 键 词： | 相移法 相位测量轮廓术 变形光栅图 相位去包裹 格莱姆-施密特正交化法 |
Two-step Phase-shifting Profilometry Based on Gram-Schmidt Orthonormalization |
| |
| ZHOU Canlin , SI Shuchun , GAO Chengyong , XU Jianqiang , LEI Zhenkun. Two-step Phase-shifting Profilometry Based on Gram-Schmidt Orthonormalization[J]. Opto-Electronic Engineering, 2013, 40(6) |
| |
| Authors: | ZHOU Canlin SI Shuchun GAO Chengyong XU Jianqiang LEI Zhenkun |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | phase-shifting algorithm phase measuring profilometry (PMP) deformed fringe pattern phase unwrapping Gram-Schmidt(GS)orthonormalization |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
