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| 半导体霍耳效应和电阻率的半自动测试系统 | |
| 引用本文： | 李岐山,谢运鸿,李玉增.半导体霍耳效应和电阻率的半自动测试系统[J].稀有金属,1981(4). |
| 作者姓名： | 李岐山 谢运鸿 李玉增 |
| 作者单位： | 冶金部有色金属研究总院402室 (李岐山，谢运鸿)，冶金部有色金属研究总院402室(李玉增) |
| 摘 要： | 一、引言就一般电学参数测试而言,早在1958年国外就开始研究制造自动测试系统,但由于当时条件的限制,发展缓慢。直到六十年代末期,不到十年的时间,自动控制技术和电子计算机发展到了相当的水平,相应的测试仪表实现了固体化、数字化和小型化并发展到一定水平。由于这三方面的基础条件逐 |
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