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高速位误码率测试仪的设计与实现
引用本文:梅阳,杜振芳,王莹. 高速位误码率测试仪的设计与实现[J]. 电光与控制, 2004, 11(2): 54-56
作者姓名:梅阳  杜振芳  王莹
作者单位:国防科技大学电子科学与工程学院,湖南,长沙,410073;国防科技大学电子科学与工程学院,湖南,长沙,410073;国防科技大学电子科学与工程学院,湖南,长沙,410073
摘    要:介绍了高速位误码率测试仪的结构,给出具体的设计方法,并对其具体实现进行了详细的介绍。

关 键 词:ECL  FPGA  误码率  帧同步
文章编号:1671-637X(2004)02-0054-03

Design and realization of high-speed BER testing instrument
MEI Yang,DU Zhen-fang,WANG Ying. Design and realization of high-speed BER testing instrument[J]. Electronics Optics & Control, 2004, 11(2): 54-56
Authors:MEI Yang  DU Zhen-fang  WANG Ying
Abstract:The authers introduced the structure, design and realization of a high-speed Bit Error Rate (BER) testing instrument.
Keywords:ECL  FPGA  BER  frame synchronization  
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