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| VXI总线转系统与被测印制板接口电路的设计 | |
| 引用本文： | 蔡金燕,单甘霖.VXI总线转系统与被测印制板接口电路的设计[J].电子测试,1997,11(3):7-8. |
| 作者姓名： | 蔡金燕 单甘霖 |
| 作者单位： | 军械工程学院电子工程系 |
| 摘 要： | 在电路印制板性能检测与故障诊断中，利用ＶＸＩ总线模块仪器作为激励信号源，由于转换系统与被测单元间的不匹配，产生信号变形，影响了电路印制板性能的测试。本文针对这一问题进行了讨论，提出了改进措施，给出了实验结果。 |
| 关 键 词： | VXI总线 电路印制板 接口电路 设计 测试 |
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