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用正电子湮没寿命谱研究热处理对TATB基高聚物粘结炸药微结构的影响
引用本文:李敬明,田勇,郝小鹏,王宝义. 用正电子湮没寿命谱研究热处理对TATB基高聚物粘结炸药微结构的影响[J]. 含能材料, 2005, 13(6): 378-381
作者姓名:李敬明  田勇  郝小鹏  王宝义
作者单位:1. 中国工程物理研究院化工材料研究所,四川,绵阳,621900
2. 中国科学院高能物理研究所,北京,100049
摘    要:用正电子湮没寿命谱仪测试了TATB基高聚物粘结炸药在热处理前后的正电子湮没寿命谱,并就热处理对其内部微结构的影响进行了探讨和分析。结果表明:正电子在TATB基PBX中的湮没模式主要为自由态湮没和捕获态湮没,热处理后其内部微孔隙的数量明显减少,但孔隙的平均尺寸却出现了一定程度的增大。

关 键 词:物理化学 高聚物粘结炸药(PBX) 热处理 正电子湮没寿命谱 微孔隙
文章编号:1006-9941(2005)06-0378-04
收稿时间:2005-01-14
修稿时间:2005-05-10

Effect of Heat Treatment on the Microstructure of TATB Based PBX by PALS
LI Jing-ming,TIAN Yong,HAO Xiao-peng and WANG Bao-yi. Effect of Heat Treatment on the Microstructure of TATB Based PBX by PALS[J]. Chinese Journal of Energetic Materials, 2005, 13(6): 378-381
Authors:LI Jing-ming  TIAN Yong  HAO Xiao-peng  WANG Bao-yi
Affiliation:1. Institute of Chemical Materials, CAEP, Mianyang 621900, China; 2. Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
Abstract:
Keywords:physical chemistry  polymer bonded explosive(PBX)  heat treatment  positron annihilation lifetime spectroscopy  micro-pore
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