首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于Wiener过程的交流接触器剩余电寿命预测
作者姓名:李奎  段宇  黄少坡  郑淑梅  刘政君  武一  周聪哲
作者单位:省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学);河北省电磁场与电器可靠性重点实验室(河北工业大学)
摘    要:在电负荷应力作用下交流接触器的电性能发生退化,其性能退化参数包含着与剩余电寿命相关的信息。该文提出将电弧侵蚀量作为描述交流接触器电性能退化的特征参数,并通过分段累积电弧侵蚀量的方法构造出服从正态分布的新变量,使其满足Wiener过程要求。建立基于Wiener过程的交流接触器性能退化模型,确定交流接触器剩余电寿命分布函数,并提出剩余电寿命的预测方法和预测模型参数的估计方法。在使用类别AC4的试验条件下进行交流接触器电寿命试验,由试验数据确定预测模型参数,并进行其剩余电寿命预测的试验验证。结果表明该文提出的方法可以用于AC4试验条件下交流接触器剩余电寿命的预测,预测误差在工程应用的可接受范围内。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号