350 kV高压X射线密度测井探测深度特性及影响

密度测井中使用可控X射线源替代¹³⁷Cs放射源已经成为新的趋势。X射线源强度受靶基上高压影响较大,当高压为350 kV时密度测量不确定度可以保持在0.01 g·cm^-3。为探究350 kV高压X射线密度测井仪器的探测深度特性及影响,利用蒙特卡罗方法研究了不同源距探测器在20%含水石灰岩地层中的探测深度;并且通过与¹³⁷Cs源密度测井仪探测特性的对比,分析了二者探测深度差异的原因。另外通过模拟分析了泥饼和地层对探测器的贡献度以及不同探测器的密度偏差,研究了井壁泥饼对密度测井响应的影响。研究结果表明：X射线密度测井仪的探测深度随着源距的增加而变大;与¹³⁷Cs源密度测井仪相比,X射线密度测井仪散射粒子主要集中于井壁1～3 cm处,从而造成二者探测深度差异;此外,泥饼和地层对不同源距探测器的贡献度不同,探测器密度偏差随着源距增加而减小。