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EMI电源滤波器插入损耗测试装置对比
引用本文:马骁.EMI电源滤波器插入损耗测试装置对比[J].安全与电磁兼容,2022(3):66-71.
作者姓名:马骁
作者单位:1.新超硕科技(北京)有限公司;
摘    要:为解决测试装置不完善造成电源EMI滤波器插入损耗测量结果的严重失真问题,设计了一款基于同轴传输线结构的同轴探针,用于适配滤波器插针式的引出端。以此探针为基础,设计了一款测试工装,并将此测试工装与同轴“开口线”作为对照组,测试了滤波器样品的插入损耗。数据显示,非同轴结构的同轴“开口线”测试结果存在严重失真,不能满足准确测试的要求;而测试工装所获测试结果与标准数据基本一致。相对而言,同轴测试系统是准确测量插入损耗的解决方案。

关 键 词:EMI电源滤波器  插入损耗  同轴探针  测试工装  相移  阻抗匹配
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