| 红外热成像无损检测缺陷的一种新方法 |
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| 引用本文： | 梅林 王裕文 薛锦. 红外热成像无损检测缺陷的一种新方法[J]. 红外与毫米波学报, 2000, 19(6): 457-459 |
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| 作者姓名： | 梅林 王裕文 薛锦 |
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| 作者单位： | 西安交通大学机械工程学院,陕西,西安,710049 |
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| 摘 要： | 通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型，提出了一种评估缺陷深度信息的新算法，并给出了有限元模拟检测结果，分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明，该方法具有较高的检测精度．
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| 关 键 词： | 红外热成像 无损检测 有限元模拟 脉冲加热时间 拉普拉斯变换 数据处理 缺陷深度检测 |
A NEW METHOD TO EVALUATE THE SUBSURFACE DEFECT BY THERMAL NONDESTRUCTIVE TESTING |
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| MEI Lin,WANG Yu-Wen,XUE Jin. A NEW METHOD TO EVALUATE THE SUBSURFACE DEFECT BY THERMAL NONDESTRUCTIVE TESTING[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2000, 19(6): 457-459 |
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| Authors: | MEI Lin WANG Yu-Wen XUE Jin |
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