首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于深度学习的偏光片检测技术研究
作者姓名:石鹏飞
作者单位:中电科风华信息装备股份有限公司,山西太原,030024
摘    要:偏光片外观缺陷的在线检测一直以来就是业界难题,深度学习工具的出现有助于改善这一现状。实验中,对含有缺陷的偏光片进行图像采集,并将采集到的图像分成训练集和验证集。在训练集中利用深度学习工具学习到了缺陷的特征阈值,将阈值应用到验证集中进行缺陷检测,得到很好的检测效果。然而,打痕缺陷由于图像采集的原因并不能完全检出。此外,偏光片自身的翘曲对检测也有一定程度的影响。

关 键 词:深度学习  偏光片  视觉检测
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号