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地下铁室铅室组合屏蔽低本底HPGeγ谱测量系统及其应用研究
引用本文:刘广山,滕慧洁.地下铁室铅室组合屏蔽低本底HPGeγ谱测量系统及其应用研究[J].辐射防护,1997,17(6):427-433.
作者姓名:刘广山  滕慧洁
作者单位:中国辐射防护研究院,厦门大学海洋系
摘    要:本文介绍一地下室铁室组合屏蔽低本底HPGeγ谱测量系统。该系统由地下铁室和在其内的铅室组成物质屏蔽;在100-2000keV能区,相对效率为38.4%的HPGe探测器积分本底计数率为0.7/s,本底效率比为1.82/s;谱数据收集时间为1000min时对^137Cs点源的探测下限为3.4mBq,作为举例,还介绍了用该系统分析测量反应堆退役清洗去污后的不锈钢管道样品中^137Cs和^80Co含量及分

关 键 词:低本底  HPGeγ谱仪  地下室  铁室  铅室  探测器
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