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| 一个采用阶跃相位调制的微波电厚度测试仪 | |
| 引用本文： | 王灿忠,王成树,郭志飞.一个采用阶跃相位调制的微波电厚度测试仪[J].电子技术,1981(2). |
| 作者姓名： | 王灿忠 王成树 郭志飞 |
| 摘 要： | 现代雷达技术的发展给天线罩提出了更高的要求.为了确保天线罩的电性能,必须测试天线罩的电厚度,即测试微波信号通过天线罩壁后所引起的"插入相位延迟"(IPD).因此,凡是测量微波相位的电路都可用来测量微波电厚度.过去对天线罩电厚度的测量不是采用单喇叭干涉仪,就是采用一般的双通道相位电桥.这两种方法都是比较经典的测量方法,技术上比较成熟,但它们都离不开精密的微波移相器和机械伺服系统.随着微波测量技术的发展,近来出现了能对 |
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