高效低成本的MCU测试解决方案 |
| |
引用本文: | 吕艺,张可.高效低成本的MCU测试解决方案[J].电子工业专用设备,2007,36(3):23-27. |
| |
作者姓名: | 吕艺 张可 |
| |
作者单位: | 爱德万测试北京分公司技术部;爱德万测试北京分公司技术部 |
| |
摘 要: | MCU产品是半导体家族中的重要成员,是日常生活中随处可见的IC元件。MCU的市场增长潜力巨大,全球半导体贸易统计协会WSTS和市场调研机构IC Insight公司均预测,MCU市场将快速增长,于2007年将超越150亿美元,而其主要驱动力则来自消费电子、汽车电子的超高速发展。主要讲述了MCU的测试方法,同时对MCU的发展趋势,以及MCU的测试系统进行了简单介绍。
|
关 键 词: | MCU 测试解决方案 低成本 市场增长 市场调研 贸易统计 消费电子 汽车电子 |
文章编号: | 1004-4507(2007)03-0023-05 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|