| Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜的X射线光电子能谱的研究 |
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| 引用本文： | 于广华,李明华,朱逢吾.Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜的X射线光电子能谱的研究[J].真空电子技术,2003(5):42-45. |
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| 作者姓名： | 于广华 李明华 朱逢吾 |
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| 作者单位： | 北京科技大学,材料物理系,北京,100083 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(50271007)，北京市自然科学基金(2012011)资助项目。 |
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| 摘 要： | 实验表明：Ta／NiFe／FeMn／Ta多层膜的交换耦合场(Hex)要大于Ta／NiFe／Cu／NiFe／FeMn／Ta自旋阀多层膜中的以Hex。为了寻找其原因，用X射线光电子能谱(XPS)研究了Ta(12nm)／NiFe(7nm)，Ta(12nm)／NiFe(7nm))／Cu(4nm)和Ta(12nm)／NiFe(7nm)／Cu(3nm)／NiFe(5nm)3种样品，研究结果表明，前两种样品表面无任何来自下层的元素偏聚；但在第3种样品最上层的NiFe表面上，探测到从下层偏聚上来的Cu原子。我们认为：Cu在NiFe／FeMn层间的存在是Ta／NiFe／Cu／NiFe／FeMn／Ta自旋阀多层膜的Hex低于Ta／NiFe／FeMn／Ta多层膜Hex的一个重要原因。
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| 关 键 词： | 自旋阀多层膜 交换耦合场 层间偏聚 X射线光电子能谱 |
| 文章编号： | 1002-8935(2003)05-0042-04 |
| 修稿时间： | 2002年12月27 |
Studies of X-ray Photoelectron Spectroscopy of Spin-valve Multilayers Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Spin valve multilayers Exchange coupling field Interlayer segregation X-ray photoelectron spectroscopy |
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